《GIDL 效應驗證微影偏移於奈米SOI n通道FinFET》書評 / 心得 ( 2017 年出版 )

《GIDL 效應驗證微影偏移於奈米SOI n通道FinFET》好看嗎？本站為大家整理《GIDL 效應驗證微影偏移於奈米SOI n通道FinFET》書評 / 心得，作者為饒子揚, 徐振威, 鄧永志, 段復元, 王木俊[著]，出版社為，目前館藏地國家圖書館; 448.87; 8954 v.15，以下為本書更詳細資訊：

• 書名：GIDL 效應驗證微影偏移於奈米SOI n通道FinFET
• 編著者：饒子揚, 徐振威, 鄧永志, 段復元, 王木俊[著]
• 版本：
• 出版社：
• 面頁數尺寸：2面 : 圖 30公分
• 集叢名：微電子技術發展與應用研討會論文集
• 出版年：2017
• 館藏地及索書號：國家圖書館; 448.87; 8954 v.15
• NBI 紀錄號：.b182941279
• ISBN：
• 價錢：